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集成电路测试仪
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英国ABI-RE1024电路板反求系统
RE1024 电路板反求系统       RE1024是为高效、专业从电路板上求取高质量的电路图所设计。该系统包括:PC控制多通道硬件测量系统、SYSTEM8 Ultimate控制软件、专业绘图软件三部分。       ER1024反求系统通过学 ...
英国ABI-ChipMaster手持数字集成电路测试仪
ChipMaster手持数字集成电路测试仪循环测试-判定间歇性故障元器件更准确;ChipMaster手持数字集成电路测试仪采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息; ...
英国ABI-LinearMaster手持模拟集成电路测试仪
LinearMaster手持模拟集成电路测试仪内置元件库可以扩充升级;LinearMaster手持模拟集成电路测试仪准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息; ...
英国ABI-AT128全品种集成电路测试仪
英国ABI-AT128全品种集成电路测试仪;最大测试IC管脚数:128pin,可以升级到192/256管脚;集成电路测试仪扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波; ...
英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪
英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪最大测试IC管脚数:192pin,可以升级到256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波; ...
英国ABI-AT256全品种集成电路测试仪
英国ABI-AT256全品种集成电路测试仪;最大测试IC管脚数:256pin;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;集成电路测试仪6种扫描频率选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz; ...
ICT-33C+集成电路测试仪
产品简介;器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏;器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号;器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试; ...
lp-2模拟集成电路测试仪
特色:1. 为测试线性 IC而设计;2. 可测元件:OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、;N555 Series、Transistor Array ;3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池,非常省电,碱性电池可连续使用1000小时;4. 平均测试时间:0.8秒;5. 设 ...
Lp-1数字集成电路测试仪
产品简介:1. 为测试数字 IC而设计;2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44;3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电;4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置;5. 平均测试时间:0.8秒; 规格;1. 显示:16×1字LCD; ...
shtek2400晶闸管综合参数测试仪
产品简介:一、概述:shtek2400型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态,断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定。本仪器的设计兼顾了SJ1105-76半导 ...
ICT-33C集成电路测试仪
产品简介:*器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏;*器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型;*器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试;*器件代换查询:仪器可显示; ...
GT2200A模拟集成电路多参数测试仪
产品简介:GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体,专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量;功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成,不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操; ...
GT2100A数字集成电路多参数测试仪
产品简介:目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较,因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功; ...
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